通過(guò)對(duì)typec母座連接器進(jìn)行仿真試驗(yàn)可以得到特性阻抗、插損、回?fù)p和串損等因素的仿真數(shù)據(jù)，通過(guò)對(duì)結(jié)果的充分分析之后，發(fā)現(xiàn)造成連接器母座信號(hào)完整性問(wèn)題的主要原因是：特性阻抗波動(dòng)過(guò)大，較小值偏小，回波損耗偏大。因此，在優(yōu)化typec母座連接器時(shí)可以著重從對(duì)這兩方面的優(yōu)化著手。
typec母座連接器在信號(hào)傳輸過(guò)程中特性阻抗小、回波損耗大的問(wèn)題實(shí)質(zhì)上是阻抗不連續(xù)的問(wèn)題。根據(jù)模擬試驗(yàn)的結(jié)果，發(fā)現(xiàn)連接器的公接頭和母接頭連接處的結(jié)構(gòu)問(wèn)題導(dǎo)致信號(hào)傳輸異常。因此，優(yōu)化電連接器公母接觸部的結(jié)構(gòu)是解決電連接器信號(hào)完整性問(wèn)題的關(guān)鍵。由于連接線(xiàn)的特性阻抗與電容電抗和電感電抗精確相關(guān)，因此需要通過(guò)以下兩種方式增加typec母座連接器底座的特性阻抗值。

一種是通過(guò)改變影響typec母座連接器感應(yīng)電抗的參數(shù)來(lái)增加感應(yīng)電抗；第二種是通過(guò)改變影響母座電容電抗的參數(shù)來(lái)降低電容電抗?？紤]到電感主要受傳輸線(xiàn)間距的影響，如果要優(yōu)化影響電感的參數(shù)，需要改變線(xiàn)間距，這將大大改變typec母座連接器的型號(hào)，并對(duì)電氣連接器造成更多意外問(wèn)題。因此，在實(shí)際優(yōu)化type-cUSB主板時(shí)，人們應(yīng)該綜合考慮很多問(wèn)題，否則會(huì)有一個(gè)考慮一個(gè)而失去另一個(gè)的情況。