通過對typec母座連接器進行仿真試驗可以得到特性阻抗、插損、回損和串損等因素的仿真數(shù)據(jù)，通過對結(jié)果的充分分析之后，發(fā)現(xiàn)造成連接器母座信號完整性問題的主要原因是：特性阻抗波動過大，較小值偏小，回波損耗偏大。因此，在優(yōu)化typec母座連接器時可以著重從對這兩方面的優(yōu)化著手。
typec母座連接器在信號傳輸過程中特性阻抗小、回波損耗大的問題實質(zhì)上是阻抗不連續(xù)的問題。根據(jù)模擬試驗的結(jié)果，發(fā)現(xiàn)連接器的公接頭和母接頭連接處的結(jié)構(gòu)問題導(dǎo)致信號傳輸異常。因此，優(yōu)化電連接器公母接觸部的結(jié)構(gòu)是解決電連接器信號完整性問題的關(guān)鍵。由于連接線的特性阻抗與電容電抗和電感電抗精確相關(guān)，因此需要通過以下兩種方式增加typec母座連接器底座的特性阻抗值。

一種是通過改變影響typec母座連接器感應(yīng)電抗的參數(shù)來增加感應(yīng)電抗；第二種是通過改變影響母座電容電抗的參數(shù)來降低電容電抗。考慮到電感主要受傳輸線間距的影響，如果要優(yōu)化影響電感的參數(shù)，需要改變線間距，這將大大改變typec母座連接器的型號，并對電氣連接器造成更多意外問題。因此，在實際優(yōu)化type-cUSB主板時，人們應(yīng)該綜合考慮很多問題，否則會有一個考慮一個而失去另一個的情況。