通過對typec母座連接器進行仿真試驗可以得到特性阻抗、插損、回損和串損等因素的仿真數據，通過對結果的充分分析之后，發(fā)現造成連接器母座信號完整性問題的主要原因是：特性阻抗波動過大，較小值偏小，回波損耗偏大。因此，在優(yōu)化typec母座連接器時可以著重從對這兩方面的優(yōu)化著手。
typec母座連接器在信號傳輸過程中特性阻抗小、回波損耗大的問題實質上是阻抗不連續(xù)的問題。根據模擬試驗的結果，發(fā)現連接器的公接頭和母接頭連接處的結構問題導致信號傳輸異常。因此，優(yōu)化電連接器公母接觸部的結構是解決電連接器信號完整性問題的關鍵。由于連接線的特性阻抗與電容電抗和電感電抗精確相關，因此需要通過以下兩種方式增加typec母座連接器底座的特性阻抗值。

一種是通過改變影響typec母座連接器感應電抗的參數來增加感應電抗；第二種是通過改變影響母座電容電抗的參數來降低電容電抗。考慮到電感主要受傳輸線間距的影響，如果要優(yōu)化影響電感的參數，需要改變線間距，這將大大改變typec母座連接器的型號，并對電氣連接器造成更多意外問題。因此，在實際優(yōu)化type-cUSB主板時，人們應該綜合考慮很多問題，否則會有一個考慮一個而失去另一個的情況。